膜厚儀與涂層測(cè)厚儀的差別

膜厚儀一般來(lái)說(shuō)和涂層測(cè)厚儀是一類(lèi)產(chǎn)品。

膜厚儀一般是測(cè)氧化膜層厚度，常見(jiàn)的鋁基，銅基氧化，測(cè)量時(shí)候用涂層測(cè)厚儀選擇N（非磁性）探頭，這樣測(cè)鋁基等氧化層也稱(chēng)為膜厚儀。

涂層測(cè)厚儀正常情況下有兩種測(cè)量原理，配F合N探頭，或者FN一體探頭。氧化層一般是幾微米到十幾微米，但是普通的涂層測(cè)厚儀誤差比較大，需要用高精度的涂層測(cè)厚儀測(cè)量氧化層.

兩者是只是根據(jù)材料有細(xì)微區(qū)別，不過(guò)現(xiàn)在使用者很多不了解，也相互稱(chēng)呼。